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    失效分析常用儀器

    探針臺主要用途 通過微探針連接到芯片并引出所需信號,用于電學特性測試 性能參數 放大倍數50X,100X,200X,500X 8個探針座 帶屏蔽箱 應用范圍 微小連接點信號引出,用于失效分析失效確認,FIB電路修改后電學特性確認等。

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